メリット
- 超高純度
- 熱伝導
- 加工精度
- 赤外透過
シリコン単結晶 (ウェハ)とは、セラミックの材料です。半導体産業の基盤材料。
SEMI M1
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| シリコン単結晶 (ウェハ)このページ | アルミナセラミック (96%) | ジルコニアセラミック | 窒化珪素セラミック (Si3N4) | |
|---|---|---|---|---|
| 引張強さ | — | 260 MPa | 900 MPa | 800 MPa |
| 硬さ | 1100 HV | 1600 HV | 1200 HV | 1600 HV |
| 線膨張係数 | 2.6 µm/m·K | 7.2 µm/m·K | 10.5 µm/m·K | 3.2 µm/m·K |
| 熱伝導率 | 150 W/m·K | 24 W/m·K | 2 W/m·K | 30 W/m·K |
| 最高使用温度 | 1200 °C | — | — | — |
| 密度 | 2.33 g/cm³ | 3.95 g/cm³ | 6.05 g/cm³ | 3.2 g/cm³ |
「—」は材料データベースに値が載っていない項目です。
半導体・MEMSの基板材料として必須。赤外光学窓にも使用。
一般的な特性に基づく参考情報です。実際の性能は製造条件・使用環境により異なる場合があります。
公的規格・技術資料をもとにした参考値です。
| SEMI | M1 |
| 項目 | 値 | 条件 |
|---|---|---|
| 最高使用温度 | 1200 °C | — |
| 線膨張係数 | 2.6 µm/m·K | — |
| 熱伝導率 | 150 W/m·K | — |
| 密度 | 2.33 g/cm³ |
メイカーズで買える商品のカテゴリです。
本ページの物性値・特性情報は、JIS・ISO・ASTM等の公的規格およびメーカー技術資料を参照した参考情報です。実際の材料選定・使用にあたっては、必ず材料メーカーの公式データシートをご確認の上、専門家にご相談ください。 本データベースは、設計・開発段階での材料比較・選定にお役立ていただけるよう、幅広い材料の物性情報を掲載しています。図面加工のご依頼やおすすめ材料のご提案は、お気軽に お問い合わせ ください。
※ 本ページに記載の商標は各社の登録商標または商標です。Inconel®, Monel®は Special Metals Corporation、Hastelloy®は Haynes International, Inc.、Vespel®, Kapton®, Kalrez®, Kevlar®は DuPont、Delrin®は TJC、Teflon™, Viton™は The Chemours Company、ジュラコン®は ポリプラスチックス株式会社、MCナイロン®は 三菱ケミカルアドバンスドマテリアルズ株式会社の商標です。
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シリコン単結晶 (ウェハ)の密度(比重)は2.33 g/cm³です。
シリコン単結晶 (ウェハ)の最高使用温度は1200 °Cです。
シリコン単結晶 (ウェハ)の熱伝導率は150 W/m·Kです。
シリコン単結晶 (ウェハ)の線膨張係数は2.6 µm/m·Kです。
シリコン単結晶 (ウェハ)の硬さは1100 HVです。
シリコン単結晶 (ウェハ)は、半導体ICウェハ、MEMS基板、赤外光学窓などに使われます。
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